平面光带检测仪
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以光波干涉原理为基础，利用平晶的侧脸面与检测产品的被测量面之间出现的干涉条纹来测量检测产品被测量面的平面度，以达到客户所要求的光带
平面平品是以光波干涉原理为基础，利用平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的平面度。平面平品用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度。亦可用于定高精度的平面零件，例如，平面光学零件、高级平台、平板、导轨、密封件等。平面平晶特别适用于计量单位、实验室作为标准平面和样板。
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